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TT-DZL1 冻胀率试验测试仪
冻胀率试验测试仪
研究土壤冻结过程，可得冻胀率、冻胀力等参数，可研究在一定应力状态下（一维状态）的冻融循环试验，也可以研究冻土在融化过程中的变形特性，可得冻土融沉系数和土体的压缩系数。
主要参数：
★1、一维土柱结构：采用透明亚克力结构，试样尺寸土样直径100mm，高度100mm，间隔10mm设置温度传感器，安装温度传感器；
★2、垂直加载系统：分辨率不小于240*128LCD显示，最大速率不小于9.99999㎜∕min，最小速度不小于0.00001mm/min，无级调速，最大行程不小于100mm，分辨率0.001mm，主机前端面板内嵌不多于16位薄膜按键控制(非外置型连接按键控制器)，最大轴力不小于10kN，精度不大于+/-0.1%F.S，内置不小于4通道采集仪（非外置型采集仪），可采集孔压、荷重、LVDT、温度等各类传感器，配套用于显示仪器工作状态；
3、轴向位移测量范围：0-100mm，精度+/-0. 1%F.S，分辨率0.001mm；
4、控制方式：既可以应变控制，也可以应力控制；
5、应变式控制：最大轴向位移不小于100mm，最小剪切速度不大于0.00001mm/min，无级调速；
6、应力式控制：轴向应力0-1.2MPa，任意可控。
★7、水头补水压力体积控制器：不小于1MPa，分辨率不大于1kPa，绝对精度不大于+/-1kPa，最大体积不小于265ml，分辨率0.001ml，精度+/-0.01ml，配USB接口，控制器前端面板内嵌不多余16位薄膜按键（非外置型连接按键控制器），配套非触摸LCD（分辨率不大于128*64）；防止超过压力和体积的自动保护装置，压力调节和显示到1kPa，体积控制和采集至0.001ml；
8、上端温度控制系统：配套2套温度传感器，一套用于低温水槽温度温控，温度控制范围：-5~100℃任意可调，精度不大于+/-0.1℃，可进行温度梯度的控制，可进行正弦、矩形、三角波、线性混合编程，配套触摸屏，既可以计算机软件控制，也可以通过触摸屏进行编程控制，
另外一套温度传感器，用于控制器土柱上端温度，该温度传感器直接接触试样，保证控制试样上端温度，仪器上端必须考虑温度均匀控制以及密封，配套补水接头，可直接连接水头补水压力体积控制器，用于控制和采集冻结过程中水分的迁移；
★9、下端温度控制系统：配套2套温度传感器，一套用于低温水槽温度温控，温度控制范围：-40~100℃任意可调，精度不大于+/-0.1℃，可进行温度梯度的控制，可进行正弦、矩形、三角波、线性混合编程，配套触摸屏，既可以计算机软件控制，也可以通过触摸屏进行编程控制，另外一套温度传感器，用于控制器土柱下端温度（上端和下端，用户自行设置），该温度传感器直接接触试样，保证控制试样下端温度，仪器下端必须考虑温度均匀控制以及密封，配套补水接头，可直接连接水头补水压力体积控制器，用于控制和采集冻结过程中水分的迁移；
10、配套冻胀试验测试软件：可采集土柱温度场的变化，侧壁配套温度传感器用于测量温度状态，根据试验方案，设置不同试验阶段和试验结束条件，可进行不同温度差下的冻胀量、冻胀力试验、循环冻融试验以及融化固结试验，并测量土体温度场变化规律以及不同水头下冻胀过程水分迁移情况，每个试验模块，均可以设置温度加载梯度（正弦、矩形、三角波、线性等）。
★11、铝合金外壳保温装置：用于试样保温，保温材料厚度不小于50mm，外壳采用铝合金；
12、温度传感器采集系统：16个采集通道、 16位高精度AD芯片。
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